Bruker Dimension Icon Atom Qüvvə Mikroskopu (AFM) - Nanomexaniki Ölçmə

【产品概述】 布鲁克原子力显微镜是全球扫描探针显微技术的品牌，提供纳米级分辨率的表面形貌及多种性能（力学、电学、磁学、化学）表征方案。独家PeakForce Tapping®技术使得测量更精准、更易用。 【核心优势】 全球领先 ：扫描探针显微镜，拥有全型号。 最高分辨率 ：可实现原子级成像，提供真实的纳米尺度信息。 功能全面 ：一台设备即可完成形貌、模量、粘附力、电势等多种性能图谱测试。 简单易用 ：PeakForce Tapping技术大幅降低操作难度，保证每位使用者都能获得高性能数据。 自有探针 ：布鲁克是全球拥有一流探针制造能力的AFM厂商，确保系统性能最优。 【典型应用场景】 半导体：ITO/AI膜层粗糙度管控、a-IGZO TFT态密度测量、LTPS工艺监控。 显示：OLED像素观测、柔性衬底粗糙度测量。 材料：纳米材料、高分子聚合物、生物样品的表面结构与力学性能研究。 【关于布鲁克纳米表面部】 布鲁克在表面测量与测试领域处于全球技术领先地位，相关专利超过200项。我们提供最全的测量测试平台，为客户提供不同预算下的全套解决方案。